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冷熱沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格

冷熱沖擊試驗(yàn)箱價(jià)格

            冷熱沖擊試驗(yàn)箱特點(diǎn):

      ??1、冷熱沖擊試驗(yàn)箱包含高溫區(qū)、低溫區(qū)、測試區(qū)三部分,測試樣品放置于測試區(qū)中,采用獨(dú)特之蓄熱、蓄冷結(jié)構(gòu),被測物完全靜止,完成冷熱溫度沖擊測試;

      ??2、可由測試孔外加負(fù)載配線測試部件;

      ??3、大型彩色LCD觸控對話式微電腦控制系統(tǒng),操作簡單易懂,運(yùn)行狀態(tài)一目了然;

      ??4、全封閉進(jìn)口壓縮機(jī)+環(huán)保冷媒,板式冷熱交換器與二元式超低溫冷凍系統(tǒng);

      ??5、具有LAN網(wǎng)絡(luò)通訊接口,可連接電腦遠(yuǎn)程操控,使用便捷;

      ??6、可獨(dú)立設(shè)定高溫、低溫及冷熱沖擊三種不同條件之功能,執(zhí)行冷熱沖擊條件時(shí),具有高低溫試驗(yàn)機(jī)的功能;

      ??7、可在預(yù)約開機(jī)時(shí)間運(yùn)轉(zhuǎn)中自動提前預(yù)冷、預(yù)熱、待機(jī)功能;

      ??8、可設(shè)定循環(huán)次數(shù)及除霜次數(shù),自動(手動)除霜;

      ??9、控制器人機(jī)界面友好,程序設(shè)定方便,異常及故障排除顯示功能齊全。

      ??冷熱沖擊試驗(yàn)箱技術(shù)參數(shù):(可根據(jù)客戶要求定制)

      ??1.提籃尺寸:710*345*410MM(W*H*D)

      ??2.降溫時(shí)間:+20℃~-55℃≤60min;

      ??3.試驗(yàn)槽溫度設(shè)定范圍:-55℃~+150℃

      ??4.高溫槽溫度設(shè)定范圍:+65℃~150℃

      ??5.低溫槽溫度設(shè)定范圍:-10℃~-65℃;

      ??(注:降溫時(shí)間為低溫室單獨(dú)運(yùn)轉(zhuǎn)時(shí)的性能)

      ??7.試驗(yàn)方式:試驗(yàn)時(shí)待測物在高溫槽與低溫槽之間移動轉(zhuǎn)換,實(shí)現(xiàn)冷熱沖擊測試目的

      ??8.溫度波動度:±0.5℃

      ??9.溫度均勻度:±2.0℃

      ??(依量測規(guī)范:量測SENSOR置放點(diǎn),離內(nèi)箱壁內(nèi)尺寸1/10處)

      ??10.沖擊復(fù)歸時(shí)間:-40℃~150℃約需5分鐘

      ??11.試驗(yàn)槽轉(zhuǎn)換移動時(shí)間:≦10S

      ??12.高低溫沖擊恒溫時(shí)間各為30分鐘

      ??13.試樣限制:本實(shí)驗(yàn)設(shè)備禁止易燃、爆炸、易揮發(fā)性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;腐蝕性物質(zhì)試樣的試驗(yàn)或儲存;生物試樣的試驗(yàn)或儲存;強(qiáng)電磁發(fā)射源試樣的試驗(yàn)或儲存。

      ??冷熱沖擊試驗(yàn)箱設(shè)計(jì)標(biāo)準(zhǔn):

      ??GB/T2423.1-1989低溫試驗(yàn)方法;GB/T2423.2-1989高溫試驗(yàn)方法;

      ??GB/T2423.22-1989溫度變化試驗(yàn);GJB150.5-86溫度沖擊試驗(yàn);

      ??GJB360.7-87溫度沖擊試驗(yàn);GJB367.2-87405溫度沖擊試驗(yàn);

      ??冷熱沖擊試驗(yàn)箱用途:

      ??冷熱沖擊試驗(yàn)箱適用于電子電器零組件、自動化零部件、通訊組件、汽車配件、金屬、化學(xué)材料、塑膠、國防工業(yè)、航天、兵工業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁及高分子材料等行業(yè)。

      ??冷熱沖擊試驗(yàn)箱用來測試材料在瞬間經(jīng)高溫、低溫連續(xù)環(huán)境下所能承受的程度,以在*短時(shí)間內(nèi)檢測對產(chǎn)品于熱脹冷縮引起的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì)。

       

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