高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱溫度范圍：

溫度范圍：-20～+150℃-40～+150℃-60～+150℃-70～+150℃等不同的級別試驗(yàn)溫度要求。

溫度波動(dòng)度：≤±0.5℃（可根據(jù)用戶需求提高至0.1℃）

溫度均勻度：≤±2℃（可根據(jù)用戶需求提高至0.5℃）

濕度范圍：30%～98%R.H（可按客戶要求定做）

濕度誤差：≤＋2%/-3%R.H

升溫時(shí)間：2-3℃/min（可根據(jù)用戶需求提高至10℃以上）

降溫時(shí)間：0.7-1℃/min（可根據(jù)用戶需求提高至10℃以上）

噪音：（dB）≤65

高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱主要特點(diǎn)

1.采用數(shù)控機(jī)床加工成型,造型美觀大方,并采用無反作用把手,操作簡便。

2.箱體內(nèi)膽采用進(jìn)口不銹鋼(SUS304)鏡面板,具有耐腐蝕,耐酸易清洗特點(diǎn)

3.箱體外膽采用A3鋼板噴塑,增加了外觀質(zhì)感和潔凈度。

4.采用三層真空鍍膜發(fā)熱體內(nèi)嵌式鋼化玻璃大視野觀察窗,保持清晰,觀察仔細(xì)。

5.箱體左側(cè)配直徑50mm的測試孔,可供外接測試電源線或信號線使用。

高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱控制系統(tǒng)

1.日本神港JCD-33A智能數(shù)顯調(diào)節(jié)儀是日本Shinko公司研制的實(shí)用型高性能價(jià)格比智能調(diào)節(jié)儀,儀表的精度等級為0.3級,采樣周期250ms。具有自由輸入,PID自整定,雙回路輸出,雙設(shè)定值,多種報(bào)警,手動(dòng)輸出等功能。

自由輸入：用戶通過操作鍵自由選擇10種熱電偶（K、J、R、S、B、E、T、N、PL-II、C[W/Re5-26]）、2種熱電阻（Pt100、JPt100）的輸入類型。

高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GB2423.1—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB2423.2—93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB2423.3－93《電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程》試驗(yàn)Ca：恒定濕熱試驗(yàn)方法

用途：本產(chǎn)品適用于電工、電子、儀器儀表及其它產(chǎn)品、零部件及材料在復(fù)雜的高、低溫濕熱環(huán)境下貯存、運(yùn)輸、使用時(shí)復(fù)雜的高低溫濕熱變化適應(yīng)性試驗(yàn)。

技術(shù)規(guī)格（注：尺寸可根據(jù)您的要求定制）：

高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱箱體材質(zhì):

外箱材質(zhì):A3鋼板,表面磷化靜電噴塑

內(nèi)箱材質(zhì):SUS304不銹鋼2B級光板

保溫材質(zhì):超薄超細(xì)玻璃纖維

門框隔熱:雙層耐高低溫老化硅橡膠門密封條

高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱用途：

適用于國防工業(yè)、兵工業(yè)、自動(dòng)化零組件、汽車部件、電子電器儀表零組件、電工產(chǎn)品、塑膠、化工業(yè)、食品業(yè)、BGA、PCB基扳、電子芯片IC、半導(dǎo)體陶磁制藥工業(yè)及相關(guān)產(chǎn)品等設(shè)備在周圍大氣溫度急劇變化條件下的適應(yīng)性試驗(yàn)（沖擊）,適應(yīng)于儀器、儀表、電工、電子產(chǎn)品整機(jī)及零部件等作溫度快速變化或漸變條件下反復(fù)抵拉力及產(chǎn)品于熱脹冷縮產(chǎn)出的化學(xué)變化或物理傷害,可確認(rèn)產(chǎn)品的品質(zhì),從IC到重機(jī)械的組無一不需要它的理想測試工具.

高質(zhì)量高低溫試驗(yàn)箱執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn):

GB10586-2006濕熱試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10589-2006低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2006高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB11158-2006高溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB/T2423.1-2001試驗(yàn)A：低溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.2-2001試驗(yàn)B：高溫試驗(yàn)方法

GB/T2423.3-1993試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)

GB/T5170.2-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法溫度試驗(yàn)設(shè)備

GB/T5170.5-1996電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)設(shè)備基本參數(shù)檢定方法濕熱試驗(yàn)設(shè)備