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冷熱沖擊試驗(yàn)箱GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B標(biāo)準(zhǔn)介紹

2018-12-12?00:00:00

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GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B標(biāo)準(zhǔn)介紹

GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B是關(guān)于《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部分:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫》的測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)與2009-10-01日開(kāi)始實(shí)施

GB/T 2423.2是GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的第2部分,GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分見(jiàn)資料性附錄NA。

本部分等同采用IEC 60068-2-2:2007《環(huán)境試驗(yàn)第2-2部分:試驗(yàn)試驗(yàn)B:干熱》(英文版)。

本部分與IEC 60068-2-2:2007相比,主要做了下列編輯性修改:

本部分的名稱改為:《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》;

“本標(biāo)準(zhǔn)”一詞改為“本部分”;

——?jiǎng)h除了IEC 60068-2-2:2007前言;

——?jiǎng)h除了IEC 60068-2-2:2007引言,將其內(nèi)容轉(zhuǎn)化為增加的資料性附錄NB的內(nèi)容;

——增加了資料性附錄“GB/T 2423標(biāo)準(zhǔn)的組成部分”(見(jiàn)附錄NA);

增加了資料性附錄“試驗(yàn)A:低溫和試驗(yàn)B:高溫的分類代號(hào)小寫(xiě)字母之間的關(guān)系”(見(jiàn)附錄NB):

——?jiǎng)h除了第1章第1段中的“對(duì)于非散熱試驗(yàn)樣品,”;

——第2章規(guī)范性引用文件一覽表增加了對(duì)GB/T 2423. 22的引用;

——4.3標(biāo)題“溫度突變與溫度漸變?cè)囼?yàn)應(yīng)用對(duì)比”改為“溫度漸變?cè)囼?yàn)”;

—— 6.8.2標(biāo)題“**濕度”改為“濕度”。

為清晰起見(jiàn),上述修改已在正文相應(yīng)位置加了腳注。

本部分代替GB/T 2423. 2-2001《電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn)第2部分:試驗(yàn)方法試驗(yàn)B:高溫》,與之相比,主要變化如下:

——?jiǎng)h除了試驗(yàn)Ba:非散熱試驗(yàn)樣品溫度突變的高溫試驗(yàn);

——?jiǎng)h除了附錄A、附錄B、附錄C、附錄D、附錄E、附錄F;

——增加了試驗(yàn)Bc:散熱試驗(yàn)樣品溫度漸變的高溫試驗(yàn) 試驗(yàn)樣品在整個(gè)試驗(yàn)過(guò)程通電。

▼GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)B第三方檢測(cè)機(jī)構(gòu)

GB/T 2423.2-2008試驗(yàn)BPDF資料

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